专利推介

  • XFEL光束诊断
  • 材料制备
  • 超导探测器研发
  • 原位散射和成像
  • 技术主题
  • 发明名称
  • 申请时间
  • 申请号
  • 摘要
  • 超导探测器研发一种超导转变边探测器及其制备方法2021-05-21CN202110560045.4本发明涉及超导电子学技术领域，特别是涉及一种超导转变边探测器及其制备方法。本发明所提供的制备方法，先后在衬底上制备截止层、薄膜层、超导材料层、常态金属条和//或常态金属点、热沉件、吸收体等部件。本发明中，为缓解超导转变边沿出现扭折线的难题，在TES探测器超导薄膜上方生长常态金属条并适当增加一些常态金属点，同时为了降低制备探测器时的复杂度和解决超导体失超的问题，采用将吸收体与超导材料层(超导薄膜)直接接触的方式，并在制备超导薄膜时增加钼薄膜厚度，通过超导材料层的两个子层和吸收体三层薄膜来调控探测器的超导转变温度。[详情]
  • 材料制备聚焦扫描式脉冲激光薄膜沉积装置以及沉积方法2021-01-19CN202110068553.0本发明涉及一种聚焦扫描式脉冲激光薄膜沉积装置以及沉积方法，利用汇聚透镜将准直激光汇聚到0.01mm量级，焦点落在靶材上，达到106W//cm2以上的平均功率密度和109W//cm2以上的峰值功率密度，使固态靶材表面原子气化从而实现样品处薄膜沉积。该设备通过X、Y方向的振镜，使光斑在靶材表面进行面扫描；再通过Z方向的实时调节以使靶面的光斑始终处于焦点位置。靶材位置也可放置多种材料，通过激光开合、输出功率与两组振镜及Z方向调节机构的联动，以实现多组分薄膜的沉积。激光器不使用有毒有害气体、沉积过程在时间上均匀性好，可以在不换靶的情况下自由调节所沉积样品的化学组分，提高了薄膜沉积的可控性与便捷性。[详情]
  • XFEL光束诊断一种高重频X射线自由电子激光单脉冲波前探测器2021-02-23CN202110200215.8本发明涉及一种高重频X射线自由电子激光单脉冲波前探测器，其特征在于，包括耐损伤十字双向光栅、光栅调节系统、耐损伤闪烁体、带孔反射镜、真空隔离窗、长工作距离物镜或中心带孔的全反射物镜、衰减片、可见光分束器、吸收器、两套高速线阵或多线探测器、数据采集与处理系统。本发明能够获得高重频自由电子激光的单脉冲波前信息。[详情]
  • 原位散射和成像用于X射线自由电子激光装置的小型样品腔2021-03-04CN202110240266.3本发明涉及一种用于X射线自由电子激光装置的小型样品腔，包括样品腔主体、配备有大面积高纯度薄片金刚石的X射线窗口、温度探测系统、温度控制系统、气氛控制和真空系统以及流体控制系统；样品腔主体为前后面外露的容积腔体，两个X射线窗口前后固定并密闭在样品腔主体前后外露面上，温度控制系统、气氛控制和真空系统以及流体控制系统均与样品腔主体连接，给样品腔主体提供所需实验环境，X射线通过X射线窗口入射到腔体内样品上，温度探测系统实时测试样品腔主体密闭环境中的温度。该腔体可以实现多种样品环境且适用于多种样品体系的X射线自由电子激光表征。[详情]